Progetto IT@cha Tecnologie italiane per applicazioni avanzate nei Beni Culturali
Afferisce alle seguenti tematiche di ricerca:

PROGETTI

PROGETTO IT@CHA TECNOLOGIE ITALIANE PER APPLICAZIONI AVANZATE NEI BENI CULTURALI

PROGETTO IT@CHA TECNOLOGIE ITALIANE PER APPLICAZIONI AVANZATE NEI BENI CULTURALI

L'obiettivo principale del progetto è lo studio, la messa a punto prototipale e la sperimentazione di tecnologie (strumenti e sistemi) e metodologie (procedure e linee guida) innovative che trovano applicazione in diverse fasi del processo di gestione dei Bene Culturali

 

DESCRIZIONE

L'obiettivo principale del progetto è lo studio, la messa a punto prototipale e la sperimentazione di tecnologie (strumenti e sistemi) e metodologie (procedure e linee guida) innovative che trovano applicazione in diverse fasi del processo di gestione dei Bene Culturali.
Il progetto è finanziato dal Programma operativo nazionale (PON) “Ricerca e Competitività” 2007-2013, che sostiene lo sviluppo di progetti nei campi della ricerca scientifica, dello sviluppo tecnologico, della competitività e dell’innovazione industriale, nel periodo 2007-2013. Il programma di attività del progetto è dedicato al miglioramento dello stato di conoscenza e di fruizione del patrimonio culturale presente, in particolare, nelle Regioni Puglia, Campania e Sicilia.

La partecipazione ENEA al progetto. ENEA - nel Partenariato di progetto - intende creare un nuovo sistema integrato a sostegno del processo di gestione del patrimonio culturale: dallo studio, alla diagnosi, fino alla valorizzazione e al monitoraggio di ciascun bene nel suo contesto. Questo è possibile grazie allo sviluppo e all'applicazione di tecnologie e metodologie avanzate ICT basate sull’infrastruttura ENEA-GRID (CRESCO), che verranno poi trasferite in ambito sia universitario che produttivo. Inoltre, ENEA mette in campo competenze specialistiche nel settore della diagnostica dei beni culturali, con lo sviluppo del dimostratore di un sistema laser per la scansione a colori e di un sistema innovativo per la metrologia fine medianteradar ottico a colori.
Gli applicativi e i risultatidel progetto saranno, inoltre, resi disponibili su Web tramite il Laboratorio Virtuale IT@CHA

RESPONSABILE SCIENTIFICO DEL PROGETTO

Dott. Giorgio Fornetti

IN COLLABORAZIONE CON

CNA
CONFAPI
CONFARTIGIANATO
CONFINDUSTRIA
UNIONCAMERE
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